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PXI技术
  • 直击PXI TAC 2017：如何应对智能时代下的测试挑战？
    今年正值PXI技术诞生20周年之际，由NI(美国国家仪器，National Instruments，简称“NI”)公司主办的PXI TAC 2017近日在深圳隆重召开。作为业界最具影响力的PXI专业论坛，PXI TAC 已经连续举办14年，这次PXI TAC回归本质，以用户为核心，聚焦用户应用，让用户看到最前沿的智能测试技术和趋势，以及在热点应用上的方向。
    05/24
  • 智能时代，NI继续引领PXI技术向前发展
    第十四届PXI技术和应用论坛(PXI TAC)已于5月11日在深圳华侨城洲际大酒店成功举行，而2017年正好是PXI的20周年庆，共吸引到18家厂商跟活动主办方美国国家仪器(NI)公司一起来做展示。按照往届惯例，NI还推出了一系列精彩的现场演讲，并举办了媒体见面会。
    05/22
  • NI发布多项业界首创PXI新产品，打造更智能的系统测试
    NI作为致力于为工程师和科学家提供解决方案来帮助他们应对全球最严峻工程挑战的供应商，在今年的PXI TAC上，NI发布了7位半数字万用表(DMM)、802.11ax无线测试解决方案、用于毫米波(mmWave)的软件无线电(SDR)和模块化源测量单元(SMU)等多款业界首创的PXI新产品，再度引领PXI技术发展的新潮流，致力于帮助用户打造更加智能的系统测试解决方案。
    07/06
  • NI：下一代无线和射频测试方案走向平台化
    您是否读过一篇题为“物联网呼唤5G网络”的文章?在日前由美国国家仪器公司(National Instruments，以下简称NI)主办的第12届中国PXI技术和应用论坛广州站活动上，NI中国市场开发经理姚远先生的一些观点让笔者对那篇文章中的说法更加肯定。姚先生所在团队专注于物联网所有领域的射频测试，他们正在用平台化的解决方案来应对下一代无线和射频的各种复杂挑战。
    06/10