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防克隆技术
基于混沌理论的RFID标签防克隆技术
本文主要研究RFID标签的防克隆技术,基于混沌离散序列具有良好的不可预测性、对初始条件极端敏感性以及良好的伪随机等特性,使用Logistic映射生成随机数,通过每次扫描时更新的随机数来辨别克隆攻击是否存在。最后结合生活中可能出现的所有情况分析该方法的实用性。
02/11
NXP推出SmartMX2 P60 Step-Up!,增加各种安全特性
NXP日前推出新一代SmartMX2 P60 Step-Up!,具备一些如物理不可克隆功能(PUF)的防克隆技术的新安全功能,适用于支付和电子政务服务。
10/14
新技术PUF防止RFID芯片“克隆”
由麻省理工学院研究人员成立的硅谷新公司 Verayo开始提供其商业版的防克隆技术产品,以解决 RFID安全问题。
09/10